概述

IC真?zhèn)舞b別項(xiàng)目介紹：  

  IC( Integrated Circuit 集成電路)是指將很多的微電子元器件(如晶體管、電阻、電容、二極管等)集成的集成電路 放在一塊塑料基板上，做成的一塊芯片。IC芯片的概念廣義的講，就是半導(dǎo)體元件產(chǎn)品的統(tǒng)稱。    2010年，由于金融市場(chǎng)的各個(gè)因素，國(guó)內(nèi)IC市場(chǎng)，主流的一些IC產(chǎn)品，從09年底到目前，出現(xiàn)了供不應(yīng)求，大部分廠家生產(chǎn)線停滯不前的現(xiàn)象。由于這種現(xiàn)象，國(guó)內(nèi)IC市場(chǎng)出現(xiàn)了大量IC方面的名詞：散新貨、翻新貨、原字原腳貨、全新原裝貨。

散新貨：散新貨分兩種，一種是生產(chǎn)廠家，沒(méi)有進(jìn)過(guò)QC而走入市場(chǎng)的貨物，這里面成品率不是很高，另一種則是沒(méi)有用過(guò)，沒(méi)有外包裝，可能氧化的貨。

翻新貨：這類貨通過(guò)國(guó)內(nèi)一些只圖利潤(rùn)率的企業(yè)，將各種渠道回收回來(lái)的貨，按型號(hào)，按封裝，進(jìn)行編帶，打字，換成新批號(hào)。而另一種是采購(gòu)人員最可怕的一種，就是將某個(gè)IC同一種封裝的型號(hào)，但不是同一個(gè)品牌或不是同一個(gè)功能的IC通過(guò)打字翻新后，仿制型號(hào)，這種貨，會(huì)給采購(gòu)工廠帶來(lái)很重大的損失。

原字原腳貨：這類的貨，說(shuō)白了，就是拆機(jī)件，有一些封裝簡(jiǎn)單，可以重復(fù)擦寫(xiě)的IC芯片，通過(guò)拆取，將其拿下，二次流放到市場(chǎng)中，這樣的貨，一般價(jià)格比較便宜。

全新原裝貨：這個(gè)就不用多解釋了，這種貨，都是原廠經(jīng)過(guò)QC認(rèn)證后，走入市場(chǎng)的貨，一般價(jià)格可能會(huì)高一點(diǎn)，但是質(zhì)量肯定是達(dá)標(biāo)的。通過(guò)以上幾種現(xiàn)象，鑒別IC芯片的真?zhèn)蔚姆椒ㄓ腥缦路椒ǎ和庥^檢測(cè)：外觀檢測(cè)通常使用光學(xué)顯微鏡，檢查芯片的共面性、表面的印字、器件主體和管腳等，是否符合特定要求。

X-ray檢測(cè)：X-Ray透視檢查是一種無(wú)損檢查方法，可多角度觀察物件內(nèi)部結(jié)構(gòu)。通過(guò)X-Ray透視、檢查被測(cè)器件封體內(nèi)部的晶粒、引線框、金線是否存在物理性缺陷。

丙酮擦拭測(cè)試：

丙酮擦拭是用一定濃度的丙酮對(duì)芯片正表面的絲印進(jìn)行有規(guī)則地擦拭，其結(jié)果用于判斷芯片表面是否為重新印字。

開(kāi)封測(cè)試：開(kāi)封去蓋是一種理化結(jié)合的試驗(yàn)，是將芯片外表面的環(huán)氧樹(shù)脂膠體溶掉，保留完整的晶粒或金線，便于檢查晶粒表面的重要標(biāo)識(shí)、版圖布局、工藝缺陷等。

無(wú)鉛檢測(cè)：利用SEM/EDS對(duì)零件引腳或端子進(jìn)行偵測(cè)，確認(rèn)是否含鉛，可以提供測(cè)試數(shù)據(jù)以及報(bào)告。

電性檢測(cè)/功能測(cè)試：利用IV曲線追蹤儀和探針臺(tái)進(jìn)行IC各管腳及開(kāi)封后各金線的曲線測(cè)試，包括：量產(chǎn)測(cè)試，開(kāi)短路測(cè)試，漏電流測(cè)試。